產(chǎn)品型號(hào)：HCCT-40H

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-05-29

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

華測(cè)儀器HCCT-40H電介質(zhì)溫頻特性綜合測(cè)試系統(tǒng)

價(jià)格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

HCCT-40H電介質(zhì)溫頻特性綜合測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，是將環(huán)境試驗(yàn)箱與評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合，效率采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。儀器自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等多種類型的電容器。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

至多64個(gè)通道的自動(dòng)測(cè)量

可以測(cè)量不同溫度環(huán)境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個(gè)通道的倍數(shù)，至多64個(gè)通道；

圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測(cè)量結(jié)果

收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)審查；

可選不同測(cè)試模式

溫度特性評(píng)估測(cè)試：在此測(cè)試模式下，自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù)，并與溫度變化同步，頻率步數(shù)201步（可定制）；

持續(xù)運(yùn)行測(cè)試：測(cè)試模式測(cè)量以下參數(shù)的變化特定中隨時(shí)間推移的特征自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)；

頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)：試驗(yàn)?zāi)Ｊ皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí)，自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)；

多種可選夾具

除了SMD組件的專用夾具外，還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具；