傳統(tǒng)低電場(chǎng)測(cè)試無法還原材料、元器件在實(shí)際高壓工況下的極化、損耗、漏電失效行為，難以完成真實(shí)服役性能表征。針對(duì)這一問題，華測(cè)儀器推出Huace-DF500 高電場(chǎng)介電損耗漏電流測(cè)試系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)強(qiáng)電場(chǎng)、寬頻、寬溫多場(chǎng)耦合下的電學(xué)測(cè)試，還原材料高壓真實(shí)電學(xué)表征。

系統(tǒng)搭載FPGA 高速波形發(fā)生單元 + 鎖相放大 AC DFR 介電響應(yīng)技術(shù)，雙路信號(hào)同步鎖相校準(zhǔn)，可減少高壓環(huán)境電磁噪聲，微弱極化電流、損耗信號(hào)識(shí)別準(zhǔn)度得到優(yōu)化，保障高電場(chǎng)下測(cè)量數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性與重復(fù)性。 測(cè)試頻率覆蓋1mHz~10kHz 寬頻段，覆蓋低頻極化、中高頻交變電場(chǎng)等多種工況；輸出電壓 0~500V 連續(xù)可調(diào)，升壓速率可達(dá) 150V/μs，可模擬電子元器件、絕緣介質(zhì)、功能陶瓷等樣品長(zhǎng)期承受的動(dòng)態(tài)、瞬時(shí)高壓工作電場(chǎng)，復(fù)現(xiàn)實(shí)際服役工況環(huán)境。支持介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、漏電流三大參數(shù)同步并行采集，無需拆分試樣、輪換多臺(tái)儀器分次檢測(cè)，減少多設(shè)備切換帶來的樣品狀態(tài)偏差、測(cè)試條件不一致問題，同步獲取電學(xué)數(shù)據(jù)，減少試驗(yàn)周期、優(yōu)化數(shù)據(jù)可信度。

可對(duì)接高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱，搭配液氮制冷模塊達(dá)到-80℃~230℃寬溫測(cè)試區(qū)間，覆蓋低溫至高溫全溫域，準(zhǔn)確模擬冷熱交變、高低溫高壓耦合等復(fù)雜服役場(chǎng)景，直觀解析溫度 + 強(qiáng)電場(chǎng)雙重應(yīng)力下材料介電劣化、漏電加劇、絕緣失效全過程。防護(hù)體系得到優(yōu)化，內(nèi)置過壓、過流、過溫三重防護(hù)機(jī)制，高壓測(cè)試實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電壓、電流、腔體溫度動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)，一旦出現(xiàn)異常工況毫秒級(jí)自動(dòng)切斷高壓輸出，減少擊穿、漏電帶來的樣品損毀與設(shè)備風(fēng)險(xiǎn)，適配長(zhǎng)時(shí)間、連續(xù)性高壓可靠性老化測(cè)試。

配套自研 HuacePro 智能測(cè)控軟件，操作界面簡(jiǎn)潔直觀，支持用戶自定義任意波形電壓激勵(lì)，自動(dòng)完成數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)繪圖、溫譜/頻譜曲線生成、參數(shù)批量導(dǎo)出，支持自定義測(cè)試程序，滿足新材料研發(fā)、產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證、批量質(zhì)檢等測(cè)試需求，為絕緣材料、壓電陶瓷、新能源介質(zhì)、半導(dǎo)體封裝、電力絕緣元器件等高電場(chǎng)性能表征提供解決方案。