還在被導(dǎo)通 / 絕緣電阻測(cè)試難題困擾？阻值數(shù)據(jù)漂移不準(zhǔn)、單機(jī)單測(cè)效率低下、現(xiàn)場(chǎng)電磁與溫場(chǎng)干擾偏大、多批次樣品檢測(cè)耗時(shí)長(zhǎng)？華測(cè)儀器 Huace DT-L3 導(dǎo)通絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)提供測(cè)試新方案。

設(shè)備標(biāo)配四端子測(cè)試架構(gòu)，減少測(cè)試引線損耗、端子接觸電阻帶來(lái)的測(cè)量偏差；導(dǎo)通測(cè)微歐級(jí)高準(zhǔn)度，分辨率可達(dá)100μΩ，絕緣端可準(zhǔn)確捕獲 pA~fA 量級(jí)微弱漏電流，直流測(cè)試架構(gòu)抗工頻、空間雜波干擾能力出眾，惡劣工況數(shù)據(jù)依舊穩(wěn)定可靠。

硬件搭載標(biāo)準(zhǔn)128通道并行測(cè)試，通道數(shù)量按需靈活擴(kuò)容，大批量試樣同步導(dǎo)通 + 絕緣一站式并行檢測(cè)，減少測(cè)試工時(shí)；配套自研 Huacepro 智能測(cè)控軟件，全流程自定義測(cè)試方案、參數(shù)閾值、判定標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)歸檔存儲(chǔ)，意外斷電數(shù)據(jù)完整留存不丟失。

可搭配高低溫試驗(yàn)箱，準(zhǔn)確控溫模擬，從低溫至高溫全工況服役環(huán)境，減少溫度變化對(duì)阻值的影響，實(shí)現(xiàn)溫變環(huán)境下導(dǎo)通、絕緣特性連續(xù)溯源測(cè)試。

普遍適配印刷電路板通孔導(dǎo)通評(píng)估、BGA焊料連接性評(píng)估、開(kāi)關(guān)、繼電器等各種接觸電阻評(píng)估、芯片電容器接合可靠性評(píng)估等多領(lǐng)域品質(zhì)檢測(cè)需求。華測(cè)儀器的業(yè)務(wù)涵蓋從單臺(tái)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)到整體實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃建設(shè)的全過(guò)程。建設(shè)絕緣材料或功能材料電性能檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，華測(cè)儀器可提供從方案設(shè)計(jì)到交付驗(yàn)收的完整服務(wù)。